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S-3400N 日立 二手 掃描電鏡型掃描電子顯微鏡采用TMP分子泵真空系統(tǒng)，節(jié)省占地面積和電源功耗。主要用于對材料的微觀形貌、組織和成分進行有效分析。

二手 SEM 賽默飛 Quattro S 掃描電子顯微鏡掃描電鏡結(jié)合了高分辨率成像、多種探測器選項和獨特的環(huán)境模式（ESEM），可在自然狀態(tài)下對多樣化的樣品進行研究。其場發(fā)射槍（FEG）確保了優(yōu)異的分辨率，同時通過不同探測器選項提供多種襯度信息。Quattro具備高真空、低真空和ESEM三種模式，適用于廣泛的樣品類型，包括不導(dǎo)電和潮濕樣品。

二手 日立 SU-8220 冷場發(fā)射電鏡冷場發(fā)射高分辨掃描電子顯微鏡配備新型場發(fā)射電子槍，使電子束束流更大、更穩(wěn)定，具有超高分辨率能力，低加速電壓下（1kV）二次電子分辨率可達1.1nm。 配備Bruker FlatQuad型平插式X射線能譜儀，可對樣品進行高分辨元素分析。應(yīng)用于生物、化學(xué)等納米尺度材料的結(jié)構(gòu)和成分分析。

二手JEOL 場發(fā)射電鏡 SEM+EDX+EBSD的主要特點有：應(yīng)用了浸沒式肖特基電子槍技術(shù)的電學(xué)系統(tǒng)；利用GB（Gentle Beam 模式）和各種檢測器在低加速電壓下能高分辨觀察和選擇信號的TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System）；電疊加的混合式物鏡。

二手 JEOL JSM-7100F 場發(fā)射掃描電鏡肖特基場發(fā)射掃描電鏡采用通用性強的out-lens式物鏡和High Power Optics（高性能電子光學(xué)系統(tǒng)），操作非常方便。基于用戶友好的SEM可以和具有多種特性的附件組合，如低加速電壓下高分辨率的觀察和分析、異種信號的同時觀察 （TTLS系統(tǒng)）、低真空模式（LV系統(tǒng)）下的觀察和分析、用大視場觀察和分析，可以滿足每個用戶的個性化需求。

二手JEOL JSM-7200F 場發(fā)射掃描電鏡電子光學(xué)系統(tǒng)應(yīng)用了日本電子旗艦機-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術(shù)，標(biāo)配了TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System），因此無論是在高/低加速電壓下，空間分辨率都比傳統(tǒng)機型有了很大的提升。

二手日本電子 JSM-7900F 場發(fā)射電鏡JEOL新一代FE-SEM旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等性能的同時，操作性能簡單化。 該設(shè)備不依賴操作者的技能，始終能夠發(fā)揮其最佳性能。

二手 日立 S-3400 掃描電鏡 （SEM）擁有新開發(fā)的電光系統(tǒng)，具有更多的自動化功能，結(jié)合了自動軸功能，包括自動橫梁設(shè)置、自動同軸軸。還具有3kV時低加速電壓保證10nm分辨率、實時顯示兩幅圖像、實時全屏圖像等特點。高性能用于觀察和分析材料的表面形貌和微結(jié)構(gòu)。

二手 日立 S-3400N 掃描電鏡 在材料科學(xué)、半導(dǎo)體研發(fā)和工業(yè)檢測領(lǐng)域，高精度微觀分析能力是推動技術(shù)突破的關(guān)鍵。日立 S-3400N 型掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其成像性能和多功能分析能力，成為科研機構(gòu)與企業(yè)的核心檢測工具。作為行業(yè)的設(shè)備解決方案供應(yīng)商,推出的日立 S-3400N 租售服務(wù)，以靈活的模式、專業(yè)的技術(shù)支持和全周期服務(wù)體系，為客戶提供低成本、高可靠性的微觀分析解決方.

二手JEOL IT-500HR場發(fā)射電鏡屬于掃描電子顯微鏡，歸為 InTouchScope™系列，憑借高亮度電子槍與優(yōu)化的透鏡系統(tǒng)，兼顧高分辨率成像與高效元素分析能力，適配多領(lǐng)域樣品觀測與成分檢測需求。