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二手 Hitachi SU8220 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡 系列中端冷場(chǎng)發(fā)射電鏡，同系列還有 SU8230、SU8240，后續(xù)迭代型號(hào)為 Regulus8220；核心革新是改良型冷場(chǎng)電子槍?zhuān)鉀Q傳統(tǒng)冷場(chǎng)束流弱、不穩(wěn)定、頻繁閃光的痛點(diǎn)，兼顧超高分辨成像 + 長(zhǎng)時(shí)間 EDS 元素分析，是納米、半導(dǎo)體、軟材料領(lǐng)域主流機(jī)型.
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二手 SEM 賽默飛 Quattro S 掃描電子顯微鏡掃描電鏡結(jié)合了高分辨率成像、多種探測(cè)器選項(xiàng)和獨(dú)特的環(huán)境模式（ESEM），可在自然狀態(tài)下對(duì)多樣化的樣品進(jìn)行研究。其場(chǎng)發(fā)射槍?zhuān)‵EG）確保了優(yōu)異的分辨率，同時(shí)通過(guò)不同探測(cè)器選項(xiàng)提供多種襯度信息。Quattro具備高真空、低真空和ESEM三種模式，適用于廣泛的樣品類(lèi)型，包括不導(dǎo)電和潮濕樣品。
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二手 日立 SU-8220 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡冷場(chǎng)發(fā)射高分辨掃描電子顯微鏡配備新型場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)闺娮邮鞲?、更穩(wěn)定，具有超高分辨率能力，低加速電壓下（1kV）二次電子分辨率可達(dá)1.1nm。 配備Bruker FlatQuad型平插式X射線(xiàn)能譜儀，可對(duì)樣品進(jìn)行高分辨元素分析。應(yīng)用于生物、化學(xué)等納米尺度材料的結(jié)構(gòu)和成分分析。
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二手JEOL 場(chǎng)發(fā)射電鏡 SEM+EDX+EBSD的主要特點(diǎn)有：應(yīng)用了浸沒(méi)式肖特基電子槍技術(shù)的電學(xué)系統(tǒng)；利用GB（Gentle Beam 模式）和各種檢測(cè)器在低加速電壓下能高分辨觀察和選擇信號(hào)的TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System）；電疊加的混合式物鏡。
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二手 JEOL JSM-7100F 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡采用通用性強(qiáng)的out-lens式物鏡和High Power Optics（高性能電子光學(xué)系統(tǒng)），操作非常方便?；谟脩?hù)友好的SEM可以和具有多種特性的附件組合，如低加速電壓下高分辨率的觀察和分析、異種信號(hào)的同時(shí)觀察 （TTLS系統(tǒng)）、低真空模式（LV系統(tǒng)）下的觀察和分析、用大視場(chǎng)觀察和分析，可以滿(mǎn)足每個(gè)用戶(hù)的個(gè)性化需求。
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二手JEOL JSM-7200F 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡電子光學(xué)系統(tǒng)應(yīng)用了日本電子旗艦機(jī)-JSM-7800F Prime采用的浸沒(méi)式肖特基電子槍技術(shù)，標(biāo)配了TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System），因此無(wú)論是在高/低加速電壓下，空間分辨率都比傳統(tǒng)機(jī)型有了很大的提升。
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二手日本電子 JSM-7900F 場(chǎng)發(fā)射電鏡JEOL新一代FE-SEM旗艦機(jī)型。 它繼承了上一代廣獲好評(píng)空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等性能的同時(shí)，操作性能簡(jiǎn)單化。 該設(shè)備不依賴(lài)操作者的技能，始終能夠發(fā)揮其最佳性能。
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二手JEOL IT-500HR場(chǎng)發(fā)射電鏡屬于掃描電子顯微鏡，歸為 InTouchScope™系列，憑借高亮度電子槍與優(yōu)化的透鏡系統(tǒng)，兼顧高分辨率成像與高效元素分析能力，適配多領(lǐng)域樣品觀測(cè)與成分檢測(cè)需求。
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二手HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡冷場(chǎng)發(fā)射電子源提供1.0 nm超高分辨率成像，0.5-30 kV連續(xù)可調(diào)電壓精準(zhǔn)適配各類(lèi)樣品，配合E×B技術(shù)實(shí)現(xiàn)SE/BSE信號(hào)自由切換，10mm2能譜儀可快速完成Be到U的全元素分析。
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二手日立 SU-8230 冷場(chǎng)超高分辨掃描電鏡主要功能及應(yīng)用范圍：微區(qū)形貌、微區(qū)成分分析?？梢杂^察和檢測(cè)非均相有機(jī)、無(wú)機(jī)材料，及這些材料在納米、微米級(jí)樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。
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