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二手JEOL IT-500HR場(chǎng)發(fā)射電鏡屬于掃描電子顯微鏡，歸為 InTouchScope™系列，憑借高亮度電子槍與優(yōu)化的透鏡系統(tǒng)，兼顧高分辨率成像與高效元素分析能力，適配多領(lǐng)域樣品觀測(cè)與成分檢測(cè)需求。

二手 日立CD-SEM 掃描電鏡S-9380（臨界尺寸掃描電子顯微鏡）設(shè)備在半導(dǎo)體制造和納米材料研究領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用

二手HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡冷場(chǎng)發(fā)射電子源提供1.0 nm超高分辨率成像，0.5-30 kV連續(xù)可調(diào)電壓精準(zhǔn)適配各類樣品，配合E×B技術(shù)實(shí)現(xiàn)SE/BSE信號(hào)自由切換，10mm2能譜儀可快速完成Be到U的全元素分析。

二手日立 SU-8230 冷場(chǎng)超高分辨掃描電鏡主要功能及應(yīng)用范圍：微區(qū)形貌、微區(qū)成分分析?？梢杂^察和檢測(cè)非均相有機(jī)、無(wú)機(jī)材料，及這些材料在納米、微米級(jí)樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。

二手 牛津 EBSD NordlysMax3實(shí)時(shí)采集、標(biāo)定和顯示結(jié)果速度高達(dá)1580點(diǎn)/秒 AZtec EBSD提供全面采集性能 同時(shí)采集分析EBSD和EDS數(shù)據(jù)，速度不衰減 同時(shí)保持高靈敏度和高靈活性 它將成為您電鏡上的一名新成員

二手 JSM日本電子--IT100/IT500掃描電鏡應(yīng)用于無(wú)機(jī)材料、高分子材料、復(fù)合材料、納米材料、半導(dǎo)體等材料中 ? 表面形貌觀察 ? 組織結(jié)構(gòu)觀察 ? 顆粒大小分析 ? 斷面性質(zhì)分析 ? 微區(qū)成份分析。

Hitachi 二手SU5000熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進(jìn)行簡(jiǎn)單的切換。樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80mmH）。使用無(wú)場(chǎng)光學(xué)元件和可變壓力輕松對(duì)任何類型的樣品進(jìn)行成像，最多可同時(shí)提供4個(gè)信號(hào)，3D MultiFinder工具，使樣品可以輕松傾斜和旋轉(zhuǎn)，影像依然保持居中和聚焦。

Hitachi 二手 SU-5000場(chǎng)發(fā)射電鏡 SEM+EDX是一款高性能電子光學(xué)系統(tǒng)，具備2.0 nm的二次電子分辨率和*的低加速電壓成像能力（低至100 V），支持高效微區(qū)分析及材料研究。其“EM Wizard”界面簡(jiǎn)化了操作流程，提供高真空與可變壓力模式之間的靈活切換，并配備了多種分析工具如EDS、WDS、EBSD等，適用于廣泛的科研領(lǐng)域。

二手 日立 SU-5000 熱場(chǎng)發(fā)射電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進(jìn)行簡(jiǎn)單的切換。樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80mmH）。使用無(wú)場(chǎng)光學(xué)元件和可變壓力輕松對(duì)任何類型的樣品進(jìn)行成像，最多可同時(shí)提供4個(gè)信號(hào)，3D MultiFinder工具，使樣品可以輕松傾斜和旋轉(zhuǎn)，影像依然保持居中和聚焦。

二手 蔡司 sigma300 場(chǎng)發(fā)射電鏡分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。 Sigma 300 性價(jià)比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測(cè)器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。