產(chǎn)品名稱：島津 EDX-7000 檢測器 維修 更換
產(chǎn)品型號：
更新時間：2026-01-16
產(chǎn)品特點：島津 EDX-7000 檢測器 維修 更換 阿美泰克（Amptek）的 SDD 檢測器即硅漂移探測器，是一種高性能的 X 射線檢測設備，在材料分析、環(huán)境監(jiān)測等領域應用廣泛。
產(chǎn)品詳細資料：
島津 EDX-7000 檢測器 維修 更換工作原理
性能特點
高能量分辨率Amptek：例如其 25mm2 的 SDD 檢測器，在 5.9keV 的 Mn Kα 線處能量分辨率可達 125eV FWHM。
高計數(shù)率Amptek：FAST SDD® 系列能夠達到超過 1,000,000 cps 的計數(shù)率，可在高計數(shù)率下保持良好的分辨率。
高峰背比Amptek：具有較高的峰背比，如標準 SDD 檢測器峰背比可達 20,000:1，能更清晰地分辨出特征峰。
寬檢測范圍Amptek：可檢測從低能到高能的 X 射線，能檢測到低至 Be Kα 線（110eV）的 X 射線。
小型化與低功耗：采用電制冷方式，無需液氮，體積小、功耗低，適用于實驗室和便攜式設備。
產(chǎn)品系列
標準 SDD 檢測器Amptek：通常具有 25mm2 的有效面積，500μm 的厚度，采用 TO-8 封裝，配備 0.3 或 0.5mil 的薄鈹窗，有兩級熱電制冷器，制冷溫差 ΔT>85K。
FAST SDD® 檢測器Amptek：是 Amptek 的高性能系列，在 TO-8 封裝內(nèi)采用了互補金屬氧化物半導體（CMOS）前置放大器，取代了傳統(tǒng)的結(jié)型場效應晶體管（JFET），進一步降低了電容和噪聲，在極短的峰值時間內(nèi)仍能提供出色的分辨率，計數(shù)率可超過 1,000,000 cps。
X-123 Fast SDD：屬于緊湊型 X 射線能譜儀系列，集成了高性能數(shù)字脈沖處理器，有效面積有 25mm2 或 50mm2 可選，適用于快速 XRF 分析和元素成分檢測等場景。
島津 EDX-7000 檢測器 維修 更換應用領域
X 射線熒光分析（XRF）Amptek：用于合金分析、貴金屬檢測、RoHS/WEEE 指令相關的有害物質(zhì)檢測等。
能量色散 X 射線光譜分析（EDS）：常作為掃描電子顯微鏡（SEM）的附件，用于材料的元素成分分析和 mapping，在材料科學、半導體研究等領域應用廣泛。
其他領域：還可應用于環(huán)境監(jiān)測、安全篩查、太空探測、教學和研究、過程控制等領域。
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