產(chǎn)品名稱：二手 麥克 3020比表面積與孔隙度分析儀
產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2025-12-25
產(chǎn)品特點(diǎn)：二手 麥克 3020比表面積與孔隙度分析儀 是一款全自動(dòng)三站式比表面積和孔隙度分析儀，專為藥品、陶瓷、活性炭等多種領(lǐng)域的質(zhì)量控制和研發(fā)設(shè)計(jì)。其主要特點(diǎn)包括同時(shí)獨(dú)立分析三個(gè)樣品、高精度的數(shù)據(jù)處理功能、靈活的氣體選擇選項(xiàng)、長(zhǎng)時(shí)間無(wú)人干預(yù)操作能力以及全面的數(shù)據(jù)分析方法。該儀器適用于廣泛的材料研究與測(cè)試需求。
產(chǎn)品詳細(xì)資料：
二手 麥克 3020比表面積與孔隙度分析儀 用途：
藥品、陶瓷、活性炭、碳黑、油漆和涂料、催化劑、推進(jìn)燃料、醫(yī)用植入體、化妝品、電子產(chǎn)品、碳納米管、燃料電池、航空領(lǐng)域隔熱層以及絕熱材料的比表面以及孔隙度的測(cè)定。
TriStar II 3020是全自動(dòng)三站式比表面積和孔隙度分析儀，能夠提高質(zhì)量控制分析的檢測(cè)速度，并提供高精度、高分辨率和數(shù)據(jù)處理功能以滿足絕大多數(shù)研發(fā)的需要。
技術(shù)特點(diǎn)
· 同時(shí)和獨(dú)立分析三個(gè)樣品 - 三個(gè)BET表面積分析時(shí)間少于20分鐘
· 標(biāo)配一個(gè)專用的飽和壓力接口，可選多種規(guī)格杜瓦瓶以及樣品管
· 可升級(jí)成高真空系統(tǒng)，用于低比表面積以及微孔的測(cè)試
· 可以測(cè)定、計(jì)算或手動(dòng)輸入自由空間
· 可以使用任何氣體，死體積測(cè)試可以不使用氦氣
· 可選滿足FDA的要求的Confirm 21 CFR Part 11的軟件。 IQ和OQ認(rèn)證服務(wù)，確保該系統(tǒng)的準(zhǔn)確性、可靠性和一致性。這些服務(wù)保障了
分析記錄的完整性
· 儀器配置了液氮液面保持裝置---液氮等溫夾，以確保整個(gè)分析過(guò)程中等溫夾套以下的溫度恒定
· 儀器可同時(shí)進(jìn)行三個(gè)樣品的分析，滿足測(cè)試量大的用戶，不是多個(gè)工作站的"排隊(duì)分析"，每個(gè)分析站都配有獨(dú)立的傳感器，保證三個(gè)
分析站分析的同時(shí)進(jìn)行
· 配備了大容量杜瓦瓶，結(jié)合的液氮等溫夾，保證至少60小時(shí)無(wú)人介入操作。無(wú)上限的連續(xù)分析
· 儀器軟件包含了目前所有的數(shù)據(jù)處理方法:
單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積，Langmuir比表面積
Temkin and Freundlich等溫線分析
多種厚度層公示計(jì)算的BJH中孔和大孔的孔體積、孔面積對(duì)孔徑的分布
孔體積和用戶指定孔徑范圍內(nèi)的總孔體積
MP法的微孔孔徑分布和t-plots、αs-plots得到的微孔總孔體積
f-Ratio plots，D-R，D-A
H-K法(包括Cheng & Yang校正，Saito & Foley校正)
DFT密度函數(shù)理論，包括NLDFT等
二手 麥克 3020比表面積與孔隙度分析儀產(chǎn)品應(yīng)用
借助于氣體吸附原理（典型為氮?dú)猓┛蛇M(jìn)行等溫吸附和脫附分析，用于確定比表面積、微孔孔體積和孔面積、中孔體積和面積、總孔體積等。
適用于各種材料的研究與產(chǎn)品測(cè)試，包括測(cè)量沸石、碳材料、分子篩、二氧化硅、氧化鋁、土壤、黏土、有機(jī)金屬化合物骨架結(jié)構(gòu)等各種材料。
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