產品名稱：維修 更換 AMPTEK SDD檢測器
產品型號：
更新時間：2026-05-25
產品特點：維修 更換 AMPTEK SDD檢測器AMPTEK SDD 檢測器即 AMPTEK 硅漂移探測器，是一種用于探測 X 射線的半導體探測器，廣泛應用于能量色散型 X 射線熒光光譜儀（XRF）和 X 射線能譜儀（EDS）等設備中。
產品詳細資料：
維修 更換 AMPTEK SDD檢測器工作原理
SDD 探測器的主要結構是一塊低摻雜的高阻硅，背面輻射入射處有一層很薄的異質突變結，正面異質摻雜電極設計成間隔很短的條紋。反轉偏置場在電極間逐步增加，形成平行表面的電場分量。耗盡層電離輻射產生的電子受該電場力驅動，向極低電容的收集陽極 “漂移"，形成計數(shù)電流。
產品特點
高計數(shù)率：由于收集陽極的電容極低，相比通常的硅 PIN 器件，SDD 具有更短的上升時間，因而特別適合在高計數(shù)率的情況下工作，計數(shù)率可達 1,000,000 CPS 以上。
高能量分辨率：SDD 的陽極面積小于通常硅 PIN 器件，電容減小，在收集等量電荷的情況下具有更高的電壓，提高了其能量分辨率。如 70 mm2 的 FAST SDD 探測器，在 5.9 keV 時能量分辨率可達 123 eV FWHM。
可在常溫下工作：SDD 的電容和漏電流比一般探測器小兩個數(shù)量級以上，通常把場效應管（FET）和珀爾帖效應器件整合到一起，常溫下就能滿足制冷需求，適用于便攜式設備。
增益穩(wěn)定性高：采用 CMOS 電荷靈敏前置放大器，增益穩(wěn)定性 < 20 ppm/°C。
主要型號及參數(shù)
維修 更換 AMPTEK SDD檢測器應用領域
超快速臺式和手持式 XRF 分析儀：用于快速分析樣品中的元素成分。
掃描電鏡（SEM）中的 EDS 系統(tǒng)：作為 EDS 系統(tǒng)的一部分，用于掃描 / 繪制樣品譜圖，分析樣品的元素分布。
在線流程控制：可實時監(jiān)測生產流程中的元素變化，實現(xiàn)質量控制。
X 射線分揀機：根據(jù)元素成分對物品進行分揀。
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